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测试系统架构设计
模块化架构通过硬件抽象层（HAL）实现设备控制与测试逻辑解耦，支持快速更换不同型号的SIM卡托测试夹具。核心组件包括：
- 运动控制子系统
- 电气参数采集模块
- 视觉定位检测单元
多维度参数校准
采用三级校准体系确保测量精度：
- 设备预热阶段自动归零校准
- 批次测试前标准件验证校准
- 动态补偿环境温湿度漂移
| 参数 | 公差范围 |
|---|---|
| 接触阻抗 | ±5mΩ |
| 插拔力度 | ±0.2N |
并行测试机制
通过多工位同步测试提升效率，每个测试单元包含：
- 独立电源通道
- 分布式数据处理节点
- 智能任务调度算法
异常自诊断功能
系统内置故障树分析引擎，可实时检测：
- 机械定位偏差
- 信号传输延迟
- 数据采集异常
数据分析与优化
测试数据通过SPC统计过程控制系统进行分析，自动生成：
- 过程能力指数报告
- 设备性能退化趋势图
- 测试参数优化建议
通过硬件冗余设计、闭环反馈机制与智能算法相结合，现代自动测试系统可实现99.5%以上的测试直通率，同时将单件测试周期压缩至12秒以内，显著提升生产质量与效率。
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